刻蚀

盛美上海等4家公司共同申请膜材料沉积装置相关专利,多站沉积断膜内孔,控刻蚀深度

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专利 盛美 刻蚀 京俊 朱志君 3 0

国家知识产权局信息显示,盛美半导体设备(上海)股份有限公司、盛美半导体设备韩国有限公司、清芯科技有限公司、盛美半导体设备(成都)有限公司申请一项名为“膜材料沉积装置及方法”的专利。申请公布号为CN122791356A,申请号为CN202510345110.X,