盛美上海等4家公司共同申请膜材料沉积装置相关专利,多站沉积断膜内孔,控刻蚀深度
国家知识产权局信息显示,盛美半导体设备(上海)股份有限公司、盛美半导体设备韩国有限公司、清芯科技有限公司、盛美半导体设备(成都)有限公司申请一项名为“膜材料沉积装置及方法”的专利。申请公布号为CN122791356A,申请号为CN202510345110.X,
国家知识产权局信息显示,盛美半导体设备(上海)股份有限公司、盛美半导体设备韩国有限公司、清芯科技有限公司、盛美半导体设备(成都)有限公司申请一项名为“膜材料沉积装置及方法”的专利。申请公布号为CN122791356A,申请号为CN202510345110.X,